导致小儿脑瘫的部分因素

时间:2017-07-29来源:未知作者:tianshi点击:

导读:小儿脑性瘫痪的患病率在不同国家流行病学调查结果不尽相同,国际卫生组织报道1‰~ 5‰,我国六省(区)流行病学调查脑瘫患病率为1.2‰~2.7‰。我国现有脑瘫患儿4OO~500万,致残率为42%~
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  小儿脑性瘫痪的患病率在不同国家流行病学调查结果不尽相同,国际卫生组织报道1‰~ 5‰,我国六省(区)流行病学调查脑瘫患病率为1.2‰~2.7‰。我国现有脑瘫患儿4OO~500万,致残率为42%~45% ,每年新增脑瘫患儿34万,已成为新的临床、公共卫生和社会问题。

  导致小儿脑性瘫痪的原因具体如下:

  1、产时因素:主要是早产(由围产期窒息造成的脑瘫占8% ~10%)、难产(难产可造成脑损伤和缺氧后果)

  (1)早产和低出生体重: 大量流行病学调查显示,早产和低出生体重是脑瘫发生的高危因素。随着围产医学发展,孕产妇保健意识提高,早产和低出生体重成活率提高,但脑瘫的发生率也明显增高,这可能与胎儿脑组织发育不成熟,易受各种因素作用,使脑组织进一步受损伤有关。

  (2)窒息:由于羊水堵塞、胎粪吸入、脐带绕颈所致的严重窒息是脑瘫的重要原因,窒息后常使脑组织缺血、缺氧、脑细胞水肿、坏死。研究表明,正常体重出生的新生儿5min Apgar评分小于3时,脑瘫发生率为5%;10 min Apgar评分小于3时,脑瘫发生率为17%;而20min Apgar评分小于3时,高达57%。

  多数学者认为。只有较长时间(≥10分钟)Apgar评分低或伴新生儿脑病和惊厥,才是脑瘫的高危因素。Psehirrer的研究表明,由围产期窒息造成的脑瘫占8%~10%,其机制可能为:缺血、缺氧后线粒体ATP能量产生不足, 泵活性减低,调节细胞内外Ca2 浓度平衡的转动机制失控,使细胞内ca2 浓度急剧上升,导致神经元的死亡。

  2、产后因素:可能导致脑瘫的新生儿并发症包括:高胆红素血症、失血、感染等原因引起的新生儿休克,颅脑损伤及癫痫抽搐等。

  可能导致脑瘫的新生儿并发症:

  (1)心血管及呼吸功能障碍可致新生儿脑缺血、缺氧,如动脉导管未闭、低血压、气胸、支气管肺发育不良、呼吸窘迫综合征等。

  (2)高胆红素血症,如新生儿溶血症造成核黄疽,脑细胞线粒体氧化磷酸化的解偶联作用发生障碍,脑细胞能量产生不足而变性坏死。

  (3)失血、感染等原因引起的新生儿休克;4.颅脑损伤及癫痫抽搐,影响脑组织供血、供氧。

  3、遗传因素:遗传因素在脑瘫的发生中越来越引起重视,一些脑瘫患儿可有家族遗传病史,在同辈或上辈的母系及父系家族中有脑瘫、智力障碍或先天畸形等,近亲结婚出生的幼儿中脑瘫发生率增高。其中早产、低出生体重是目前公认的最主要的脑瘫致病因素,且孕期越小,出生体重越低,脑瘫患病率越高。遗传是脑瘫发生的一个重要因素。

  以上列举的就是导致小儿脑瘫的部分因素,研究小儿脑瘫病因,及早取干预措施,及早诊断、康复、治疗,对于降低患病率、减少致残率、提高我国人口素质具有重要意义。

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